结构光测量中获取高精度相位的新方法

被引：13

作者：

潘伟

赵毅

阮雪榆

机构：

[1] 上海交通大学国家模具CAD工程研究中心,上海交通大学国家模具CAD工程研究中心,上海交通大学国家模具CAD工程研究中心上海,上海,上海

来源：

光学学报 | 2004年 / 05期

关键词：

三维测量; 结构光测量; 相移; 投影光栅; 相位传递函数;

D O I：

暂无

中图分类号：

TP274.2 [];

学科分类号：

摘要：

随着制造技术的快速发展 ,三维光学测量技术也得到迅速的发展 ,利用双目CCD(电耦合插件 )摄像机记录的光栅投影测量技术是一种新型的光学测量方法。在该方法的测量过程中 ,通过测量相位值取得测量空间。为了获得连续的高精度测量相位值 ,提出一种结合了格雷 (Gray)编码并能够优化相位精度的相移方法 ,该方法通过投影相位传递函数来优化测量相位值。为了消除光栅投影图像中非正弦、周期变化和其他干扰因素的影响 ,给出投影光栅一种新的光强函数 ,利用这个光强函数能够进一步提高投影光栅测量相位精度。最终 ,通过插值测量相位精度能达到亚像素级。

引用

页码：687 / 691

页数：5

共 6 条

[1]

HighResolutionMeasurementofPhaseShiftAmplitudeandnumericObjectPhaseCalculation. GeorgWiora. . 2000

[2]

PulsecodeCommunications. GrayF. US Patent:2,632,058 . 1953

[3]

Performanceofspatialvs.temporalphaseshiftinginESPI. JanBurke,HeinzHelmers. Proceedings of SPIE the International Society for Optical Engineering . 1999

[4]

Comparison of phase- measurement algorithms. Creath K. Surface Characterization and Testing . 1986

[5]

Numerical recipes in C. Press W H,Teukolsky S A,Vetterling W T,et al. . 1992

[6]

Absolute calibration of photometer physical chemical earth (B). Kalla K U,Holma H J. Applied Optics . 2000

← 1 →