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X射线衍射技术在纳米材料中的应用
被引:5
作者
:
陆金生
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0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
帕纳科公司原飞利浦公司分析仪器部北京办事处北京
陆金生
机构
:
[1]
帕纳科公司原飞利浦公司分析仪器部北京办事处北京
来源
:
现代科学仪器
|
2003年
/ 02期
关键词
:
纳米材料;
晶粒度;
颗粒度;
结晶度;
物相鉴定;
D O I
:
暂无
中图分类号
:
TB383 [特种结构材料];
学科分类号
:
070205 ;
080501 ;
1406 ;
摘要
:
引用
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页码:34 / 35
页数:2
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