关于X射线衍射法测定微观应力的表征值的讨论

被引：5

作者：

张定铨

何家文

机构：

[1] 绍兴文理学院!绍兴

[2] 不详

[3] 西安交通大学金属材料强度国家重点实验室!西安

来源：

关键词：

内应力; 微观应力; 伪宏观应力; X射线法;

D O I：

暂无

中图分类号：

TG115 [金属的分析试验（金属材料试验）];

学科分类号：

摘要：

本文以Macherauch内应力分类法为依据，指出存在于各个晶粒的第Ⅱ类内应力（即微观应力）的值是一个随机变量．通常由X射线衍射线的线形分析获得的所谓微观应力值只是第Ⅱ类内应力的离差；而导致衍射线附加位移的伪宏观应力是其均值.综合两者才是材料中第Ⅱ类内应力的确切表达

引用

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