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基于遗传算法的TBDD排序方法
被引:3
作者
:
龙望宁
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0
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机构:
清华大学计算机系!北京
龙望宁
杨士元
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机构:
清华大学计算机系!北京
杨士元
闵应骅
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机构:
清华大学计算机系!北京
闵应骅
童诗白
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机构:
清华大学计算机系!北京
童诗白
机构
:
[1]
清华大学计算机系!北京
[2]
清华大学自动化系!北京
[3]
中科院计算所CAD开放实验室!北京
来源
:
电子学报
|
1998年
/ 05期
关键词
:
遗传算法;
电路的时滞故障测试;
已排序的二叉判决图(OBDD);
TBDD变量排序;
D O I
:
暂无
中图分类号
:
TP18 [人工智能理论];
学科分类号
:
081104 ;
0812 ;
0835 ;
1405 ;
摘要
:
带时间参数的二叉判决图(TBDD)在电路的时滞故障测试中有着重要的应用价值,但其变量排序是用常规方法无法解决的一个优化问题.本文提出一种基于遗传算法的TBDD排序算法.用快速衡量值和TBDD节点数来计算个体的适应度,针对变量排序的特定问题,提出一种模板保序交叉方法.采用自适应的变异概率计算方法,并提出一个适合于TBDD排序问题的变异算法.实验结果表明较好地解决了TBDD的排序问题.
引用
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