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高精度全息干涉计量——相移技术的应用
被引:2
作者
:
论文数:
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机构:
郑文
谭玉山
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0
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0
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0
机构:
西安交通大学机械工程系,西安交通大学机械工程系西安,西安
谭玉山
机构
:
[1]
西安交通大学机械工程系,西安交通大学机械工程系西安,西安
来源
:
光学学报
|
1991年
/ 04期
关键词
:
全息干涉计量;
相移;
相位图;
D O I
:
暂无
中图分类号
:
学科分类号
:
摘要
:
本文介绍了一种精确的全息干涉相位测量系统。采用双曝光、双参考光束,并引入相移技术,能够同时获得全场256×256个点的相位变化值;相位测量的重复性优于2%,全场处理时间少于2分钟。
引用
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页码:376 / 380
页数:5
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