晚发性抑郁患者情绪调节机制的ERPs研究

被引：8

作者：

张炳蔚 ^{[1
]}

许晶 ^{[1
]}

赵仑 ^{[2
]}

机构：

[1] 大连医科大学附属一院神经内科

[2] 江苏省语言科学与神经认知工程重点实验室

来源：

航天医学与医学工程 | 2006年 / 02期

关键词：

事件相关电位; 晚发性抑郁; 情绪调节; N2Nogo; P3Nogo;

D O I：

10.16289/j.cnki.1002-0837.2006.02.017

中图分类号：

R749.4 [情感性精神病];

学科分类号：

100205 ;

摘要：

目的采用事件相关电位探讨晚发性抑郁患者情绪调节障碍的神经生理机制。方法被试者包括16例晚发性抑郁患者(发病年龄≥60岁)与16名健康老年人。采用Go/Nogo实验范式,要求被试者对刺激序列中双个三角形进行按键反应(Go),单个三角形不反应(Nogo)。记录32导脑电。结果健康老年人中,Nogo刺激产生了明显的额中央区分布的N2Nogo和P3Nogo;与对照组相比,病例组的N2Nogo波幅明显增高,而P3Nogo波幅显著降低,两者潜伏期无显著差异。结论晚发抑郁患者存在情绪调节障碍,其电生理学指标为N2Nogo明显增高和P3Nogo的显著降低,为晚发性抑郁的诊断和治疗提供了一定的客观评价指标。

引用

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