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射线无损检测发展趋向
被引：4
作者：
孙永玲
机构：
来源：
关键词：
实时成象;
摄象机;
光电导;
微焦点;
传感器;
层析成象;
材料试验;
无损检测;
发展趋向;
D O I：
暂无
中图分类号：
TH878 [无损探伤仪器];
学科分类号：
0804 ;
080401 ;
081102 ;
摘要：
<正>50年前,X射线和γ射线已被广泛应用在各个领域,时至今日,射线无损检测更是呈现出迅猛的发展势头,甚至这些学科的名称也发生了变化.以往大多数辐射检测方法均被称作射线照相,现在则统称为射线学,正如ASTM所定义的,射线学是“X射线,γ射线、中子和其它穿透辐射的科学和应用(ASTM E1316—92)”.射线照相则专门表示利用胶片或类似胶片的方法.实时成象检测技术则指电子方法,即“图象随着物体成象时间非常快速变化的方法(ASTM E1316—92)”.此外,射线学还包括层析射线照相法、背散射检测、测量方法和其它各种辐射检测方法.进入21世纪以后,上述各项技术将会进一步发展.
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页码：328 / 330
页数：3
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