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- [2] 实用化学手册[M]. 国防工业出版社 , 张向宇 编,
激光对CCD器件破坏时几种阈值的测量
被引：21
作者：
倪晓武，陆建，贺安之
机构：
[1] 南京理工大学应用物理系
来源：
关键词：
CCD器件，MOS结构，激光破坏，阈值;
D O I：
暂无
中图分类号：
TN622 [耦合器、定向耦合器];
学科分类号：
摘要：
本文简要地分析了激光与ＭＯＳ结构ＣＣＤ器件相互作用全过程，提出了该破坏过程中的几种损伤阈值。在进行了实际测试的基础上，首次得到了Ｑ开关ＹＡＧ激光致使该种器件产生的热熔融阈值、光学击穿阈值、直接破坏阈值和致使整个器件失效的激光能量阈值等有关结果。
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