IRIS(CID)-ICP-AES法同时测定聚合物PDXL过程产物中的硫和钠

被引：1

作者：

许实

机构：

[1] 上海交通大学分析测试中心!上海市华山路号

来源：

光谱实验室 | 2000年 / 04期

关键词：

ICP-AES; CID(电荷注入检测器); 硫; 钠;

D O I：

暂无

中图分类号：

O657.31 [原子发射光谱分析法];

学科分类号：

070302 ; 081704 ;

摘要：

本文报道采用 IRIS( CID)全谱等离子体光谱仪 ,同时测定高分子聚合物 PDXL研制过程产物中硫和钠的含量。样品制成 10 %硝酸溶液后用 180 .734 nm硫的谱线和 589.592 nm钠的谱线分别测定硫和钠。方法的检出限 S为 3.9μg/L,Na为 1.4 μg/L,RSD均小于 0 .3% ,与标准加入法及燃烧法对照 ,结果吻合得很好 ,方法快速、简便

引用

页码：388 / 391

页数：4

共 4 条

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