雷达距离维成像技术

被引：24

作者：

鹿国春

机构：

[1] 航天工业总公司二十三所!北京

来源：

关键词：

全去斜率处理; 距离维像函数; 高分辨力成像;

D O I：

10.19472/j.cnki.1008-8652.2000.01.003

中图分类号：

TN95 [雷达];

学科分类号：

080906 [电磁信息功能材料与结构];

摘要：

介绍一种距离维成像技术─—全去斜率处理技术的原理、关键问题以及飞行试验结果。该技术已成功地应用于逆合成孔径实验雷达的距离维成像。雷达发射带宽为４００ＭＨｚ的脉冲波线性调频信号，对其回波信号进行去斜率混频，再经ＦＦＴ处理即可得到实时的目标距离维像。

引用

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