还原-色层分离富集-光谱法测定荧光级氧化铕中的稀土杂质

被引：8

作者：

王振莹

王长庆

伍星

母宗绪

机构：

[1] 北京有色金属研究总院

来源：

关键词：

稀土杂质; 分离富集; 待测元素; 三价稀土; 发射光谱法; 色层柱; 氢离子浓度; pH值; Eu; 荧光级;

D O I：

暂无

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

<正> 发射光谱法直接测定纯Eu2O3中的稀土杂质,不能满足荧光级Eu2O3的分析要求,应对稀土杂质进行化学富集。铕可被还原为二价,较易与其他三价稀土分离。采用还原-柱色层法,在封闭体系中进行分离,有效地避免二价铕的氧化而无需保护气氛。针对荧光

引用

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