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SiO2对(Sr,Bi,Si,Ta)掺杂的TiO2基压敏陶瓷电性能的影响
被引:10
作者
:
孟凡明
论文数:
0
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0
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0
机构:
安徽大学物理与材料科学学院
孟凡明
胡素梅
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机构:
安徽大学物理与材料科学学院
胡素梅
傅刚
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机构:
安徽大学物理与材料科学学院
傅刚
方庆清
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机构:
安徽大学物理与材料科学学院
方庆清
机构
:
[1]
安徽大学物理与材料科学学院
[2]
茂名学院技术物理系
[3]
广州大学固体物理与材料研究实验室
[4]
安徽大学物理与材料科学学院 安徽合肥
[5]
广东茂名
[6]
广东广州
[7]
安徽合肥
来源
:
安徽大学学报(自然科学版)
|
2004年
/ 03期
关键词
:
TiO2基压敏陶瓷;
压敏电压;
非线性系数;
电容量;
晶粒电阻;
半导化;
D O I
:
暂无
中图分类号
:
TM54 [电阻器、电位器];
学科分类号
:
080801 ;
摘要
:
研究SiO2对(Sr,Bi,Si,Ta)掺杂的TiO2基压敏陶瓷的压敏特性、电容特性及晶粒半导化的影响,发现按照配方TiO2+0.3%(SrCO3+Bi2O3)+0.075%Ta2O5+0.3%SiO2配制的样品具有最低的压敏电压、最大的相对介电常数及最小的晶粒电阻。
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