白光扫描干涉仪用于保偏光纤偏振耦合检测

被引:5
作者
张红霞
张以谟
贾大功
唐峰
机构
[1] 天津大学精密仪器与光电子工程学院
[2] 光电信息技术科学教育部重点实验室(天津大学)
关键词
保偏光纤; 偏振耦合; 白光干涉仪; 保偏光纤环扫描;
D O I
暂无
中图分类号
TN253 [光纤元件];
学科分类号
0702 ; 070207 ;
摘要
采用白光扫描干涉法,利用Michelson干涉仪中移动臂的移动补偿保偏光纤中产生的光程差,从而实现对保偏光纤绕组中偏振耦合点的耦合强度及空间位置分布的有效检测。分析了白光干涉仪的原理、结构以及干涉条纹特点,进行了保偏光纤环的扫描测量。结果表明,第一个保偏光纤环的质量优于其他各环,证明了仪器设计理论和实验结果相符。
引用
收藏
页码:305 / 308
页数:4
相关论文
共 3 条
[1]   保偏光纤偏振特性测试系统的光路研究 [J].
李彦 ;
冯丽爽 ;
徐宏杰 ;
张春熹 .
红外与激光工程, 2005, (04) :430-433+463
[2]   采用双折射光纤设计分布式应力传感器 [J].
井文才 ;
李强 ;
唐锋 ;
于晋龙 ;
张以谟 ;
周革 ;
贾大功 .
光电子·激光, 2005, (01) :1-4
[3]   白光干涉偏振模耦合分布式光纤传感器分析 [J].
周晓军 ;
龚俊杰 ;
刘永智 ;
周建华 .
光学学报, 2004, (05) :605-608