电容过程成像技术的进展

被引：36

作者：

王化祥

杨五强

机构：

[1] 天津大学自动化系!天津,英国曼彻斯特理工大学电气与电子工程系

来源：

关键词：

阵列式敏感电极; 抗杂散电容C/V转换电路; 图像再构算法;

D O I：

10.19650/j.cnki.cjsi.2000.01.002

中图分类号：

TP274 [数据处理、数据处理系统];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 080402 ; 081002 ; 0835 ;

摘要：

本文详细介绍了电容过程成像技术的新进展 ,其中包括阵列式敏感电极结构设计 ,具有抗杂散电容影响的高灵敏 AC桥电容检测线路以及 L andweber迭代算法再构图像 ,从而使成像系统性能指标明显得到改善。

引用

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