X射线成像中图像的综合校正方法研究

被引：3

作者：

李永利

刘贵忠

潘德恒

机构：

[1] 西安交通大学

[2] 华北工学院陕西西安

[3] 陕西西安

来源：

兵工学报 | 2002年 / 02期

关键词：

X射线成像; 断层扫描; 散射; 多分辨分析;

D O I：

暂无

中图分类号：

TH878 [无损探伤仪器];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 081102 ;

摘要：

在X射线检测中 ,图像中散射噪声、射线束的不均匀性等是影响检测质量的重要因素。本文将分析X射线图像中散射的分布规律和低频噪声对图像的质量劣化影响 ,以求得散射的理论分布公式 ,为实际射线检测方法提供理论依据。在此基础上提出了基于小波的综合校正方案 ,首先利用上述理论依据 ,获取低散射的原始图像 ;再采用多分辨分析的图像校正方法 ,对其进行校正 ,得到了较为满意的结果。这种多分辨分析法不仅具有普适性和实时性 ,同时也避免了不同检测物体和不同检测条件下的重复建模

引用

页码：196 / 200

页数：5