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辐射测温法与比辐射率(下)
被引:4
作者
:
青山聡
论文数:
0
引用数:
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0
机构:
日本株式会社
青山聡
孙金胜
论文数:
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0
机构:
日本株式会社
孙金胜
机构
:
[1]
日本株式会社
来源
:
红外
|
1996年
/ 07期
关键词
:
辐射测温;
被测对象;
波长;
温度仪;
表面加工;
比辐射率;
D O I
:
暂无
中图分类号
:
TH811 [温度测量仪表];
学科分类号
:
摘要
:
<正> 4.3.通过改变形状使物体高比辐射率化 低比辐射率物体通过表面加工改变形状,有可能提高比辐射率。从图(7)可看出,由于表面加工成细径深孔形状,其实际
引用
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页码:26 / 29
页数:4
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