膜电容器引线片处热击穿问题的研究

被引：2

作者：

邓万婷

李劲

姚宗干

贺新全

机构：

[1] 华中理工大学

来源：

高电压技术 | 1998年 / 01期

关键词：

引线片,点接触,电阻;

D O I：

10.13336/j.1003-6520.hve.1998.01.008

中图分类号：

TM53 [电容器];

学科分类号：

080801 ;

摘要：

欲提高膜电容器的储能密度，必须解决引线片处的热击穿问题，故此研究了点接触电阻的概率分布规律，发现它符合Ｘ２（４）概率分布并据此推算出电容器引线片最大允许电流。

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共 2 条

[1]

传热学.[M].程尚模主编.高等教育出版社.1990,

[2]

电接触理论及应用.[M].程礼椿编;.机械工业出版社.1988,