基于遗传算法的数字电路测试生成方法

被引：2

作者：

陈光禹，潘中良

机构：

[1] 电子科技大学ＣＡＴ研究室

来源：

电子学报 | 1997年 / 04期

关键词：

数字电路，测试生成，遗传算法，专家系统;

D O I：

暂无

中图分类号：

TN79 [数字电路];

学科分类号：

080902 ;

摘要：

本文提出了一种基于遗传算法的数字电路测试图形生成方法，首先把被测电路的门级描述转化为易于计算的非线性网络，然后用遗传算法找到网络能量函数的最优解，从而得到被测电路的测试集．这种方法对可测故障都能生成测试，能方便地产生多故障的测试图形，同时具有较好的并行性，易于在多处理机上实现．

引用

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页数：3

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共 3 条

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