光弹性等差条纹级数的识别

被引：2

作者：

林绍坤

李志和

机构：

[1] 机电部郑州机械研究所

来源：

实验力学 | 1990年 / 01期

关键词：

双波长; 条纹全量; 光弹性;

D O I：

暂无

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

本文根据光弹性和光干涉原理,提出了利用双波长测得的扣纹级数小数部分计算条纹全量的方法,并经计算和实验验证其正确性,它的精度取决于小数条纹部分的测量精度.本方法将为光弹性实验数据的自动采集提供了方便.

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[1] PHOTOELASTIC MEASUREMENTS BY MEANS OF COMPUTER-ASSISTED SPECTRAL-CONTENTS ANALYSIS [J].

REDNER, AS .

EXPERIMENTAL MECHANICS, 1985, 25 (02) :148-153