X射线荧光光谱分析L-T方程中D、E值的求法

<正> 一、引言在X射线荧光光谱分析中,基体效应问题是一个很复杂的问题。分析样品中的主成分时,要想得到准确可靠的分析结果,必须校正基体成分对分析谱线强度的影响。一般说来,基体成分对分析谱线强度的影响可以分为三类:一是由于基体的化学成分引起的,例如,谱线的吸收增强效应,背景强度的改变。二是由于基体的物理状态引起的,例如,试样的粒度、不均匀性和表面几何形状等因素的影响。三是由于基体的物质结构引起的,例如,谱线