中美合作发明授权专利计量分析及政策启示

被引：7

作者：

刘云

陈泽欣

刘文澜

安菁

机构：

[1] 北京理工大学管理与经济学院

来源：

关键词：

研发合作; 专利计量; 专利质量; 专利合作强度;

D O I：

10.16381/j.cnki.issn1003-207x.2012.s2.069

中图分类号：

G306 [专利研究];

学科分类号：

摘要：

中美合作发明授权专利可以从一个侧面反映中美在产业技术领域研发合作的特点。本文基于美国专利数据库,从专利授权机构、专利质量、专利合作强度等方面,对近30年来中美合作发明的授权专利特点进行了计量分析,发现中美在专利技术合作方面存在的问题,并提出相应的政策建议。

引用

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页数：7

共 4 条

[1] 谈中美科技合作的走向及我们的思考 [J].

吴贻康 .

[2] 当代国际科技合作的经验与启示 [J].

何斌 ;

孙树栋 .

[3] 主要发达国家国际科技合作的资助政策及其启示 [J].

肖利 ;

汪飚翔 .

[4] 美国政府国际科技合作的经费投入与结构分布 [J].

刘云 ;

董建龙 .