分析仪器中嵌入式软件黑盒测试的研究

被引:5
作者
朱燕芬 [1 ]
佘检求 [2 ]
王健 [1 ]
机构
[1] 杭州电子科技大学电子信息学院
[2] 聚光科技(杭州)有限公司
关键词
分析仪器; 嵌入式软件; 黑盒测试; 改进的V模型; 测试策略;
D O I
暂无
中图分类号
TP311.52 [];
学科分类号
081202 ; 0835 ;
摘要
分析了分析仪器嵌入式软件的特点及测试要点,选择黑盒测试作为独立测试团队在目标环境下的嵌入式软件测试方法,并给出能有效管理黑盒测试过程改进的V模型。主要讨论在改进的V模型中,各阶段如何利用各种黑盒测试技术,来测试分析仪器中嵌入式软件的测试策略。并在实际工程项目中得到应用。
引用
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