基于双重人工神经网络的XP-70绝缘子串污闪概率模型的建立

被引：9

作者：

徐建源 ^{[1
]}

滕云 ^{[1
]}

林莘 ^{[1
]}

齐伟夫 ^{[2
]}

机构：

[1] 沈阳工业大学电气工程学院

[2] 沈阳供电公司

来源：

电工技术学报 | 2008年 / 23卷 / 12期

关键词：

绝缘子; 人工污秽试验; 污秽闪络; 人工神经网络;

D O I：

10.19595/j.cnki.1000-6753.tces.2008.12.004

中图分类号：

TM852 [环境对绝缘的影响];

学科分类号：

080803 ;

摘要：

针对高压电网运行中绝缘子污闪风险概率评估的困难,建立了XP?70(9片串)绝缘子的基于双重人工神经网络的污闪概率模型。污闪概率模型比较准确地反映了环境因素、等值附盐密度(ESDD)、污秽闪络电压水平及污秽闪络概率之间的非线性关系,建立了包括估计绝缘子的自然积污污秽度、预测绝缘子污秽闪络电压值及根据前两个模型的输出结果计算出该绝缘子污闪的风险概率大小的三个子模型。进行了针对三个子模型的一系列试验,试验结果表明,该预测模型的预测结果基本满足工程需要,具有实用价值。

引用

页码：23 / 27+47 +47

页数：6

共 6 条

[1] 高压绝缘子污闪过程特征量的分类和判别 [J].