基于故障检测和可靠性约束的传感器布局优化

被引：32

作者：

杨光 ^{[1
]}

刘冠军 ^{[2
]}

李金国 ^{[1
]}

杨国峰 ^{[2
]}

机构：

[1] 空军装备研究院雷达所环境与可靠性试验中心

[2] 国防科技大学机电工程研究所

来源：

电子学报 | 2006年 / 02期

关键词：

测试系统; 传感器布局; 故障检测; 可靠性;

D O I：

暂无

中图分类号：

TP212 [发送器（变换器）、传感器];

学科分类号：

140102 [集成电路设计与设计自动化];

摘要：

传感器布局优化是实现机电设备机内测试(B IT)系统设计优化的重要方法之一,保证系统对检测目标具有较好的检测效能是传感器布局优化的重要约束.通过测试信息模型分析,可知传感器自身可靠性问题将会影响系统效能的实现.本文在分析传感器故障概率对测试系统故障检测效能的影响的基础上,以传感器的故障概率和最小及传感器总价格最小为优化目标,以故障检测率、故障隔离率及虚警率为约束,基于系统故障———传感器的测试信息模型,设计并构建了一个传感器布局多目标优化的非线性整数规划模型(M INLP),对其求解可得到B IT系统的传感器布局优化设计方案,并以某伺服B IT系统为例进行优化设计分析.

引用

页码：348 / 351

页数：4