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伪随机测试生成在混合电路参数测试中的应用
被引:3
作者
:
叶明军
论文数:
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引用数:
0
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0
机构:
桂林电子工业学院电子工程系CAT研究室
叶明军
颜学龙
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机构:
桂林电子工业学院电子工程系CAT研究室
颜学龙
雷加
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机构:
桂林电子工业学院电子工程系CAT研究室
雷加
郭学仁
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机构:
桂林电子工业学院电子工程系CAT研究室
郭学仁
机构
:
[1]
桂林电子工业学院电子工程系CAT研究室
来源
:
半导体技术
|
2003年
/ 09期
关键词
:
混合电路;
伪随机测试;
多媒体;
D O I
:
10.13290/j.cnki.bdtjs.2003.09.008
中图分类号
:
TN707 [测试、检验];
学科分类号
:
摘要
:
混合信号电路在通信、多媒体等领域获得越来越广泛的应用。然而,测试也变得更复杂。传统上对模拟电路的测试采用的是直接功能测试,即直接测量电路的性能参数Z。采用该测试方法,其缺点是测试时间长、测试设备昂贵、且精度差。本文针对这一问题进行研究,详细讨论了利用伪随机技术进行混合信号电路测试的方法。
引用
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页码:25 / 28
页数:4
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