ICP-AES法测定钼铁中Mo,Si,Cu,Sb,Sn

被引：15

作者：

成勇

肖军

宁燕平

胡金荣

机构：

[1] 攀枝花钢铁研究院

[2] 攀枝花钢铁研究院四川攀枝花

[3] 四川攀枝花

来源：

冶金分析 | 2003年 / 03期

关键词：

ICP-AES; 钼铁合金; 钼; 微量元素;

D O I：

10.13228/j.issn.1000-7571.2003.03.010

中图分类号：

TG115.3 [化学试验法];

学科分类号：

080502 ;

摘要：

以电感耦合等离子体光谱法(ICP-AES)直接同时进行钼铁中基体元素Mo和微量杂质元素Si,Sb,Sn,Cu的测定。试验了元素的干扰情况,优化了仪器工作条件,采用钇内标校正与同步背景校正、K系数校正相结合的方法消除基体及试液进样的物理化学影响干扰。精密度、回收率、检出限、标准样品分析对照均取得了满意的结果。

引用

页码：28 / 30

页数：3