学术探索
学术期刊
新闻热点
数据分析
智能评审
立即登录
小容量交流接触器电寿命快速试验的探讨
被引:4
作者
:
帅志良
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
机械工业部上海电器科学研究所
帅志良
机构
:
[1]
机械工业部上海电器科学研究所
来源
:
低压电器
|
1983年
/ 01期
关键词
:
交流接触器;
小容量;
试验次数;
磨损量;
磨损率;
电寿命试验;
分断;
分断电流;
触头磨损;
触头材料;
操作频率;
D O I
:
10.16628/j.cnki.2095-8188.1983.01.005
中图分类号
:
学科分类号
:
摘要
:
由于接触器电寿命试验的周期长、耗费大,已难以满足产品更新换代和提高产品质量的需要,因此探索电寿命快速试验方法具有很大的意义。本文就提高试验操作频率、试验一定次数后按磨损率进行推算、加重分断条件、用少量AC4试验的磨损率去估算AC3磨损率等方法进行了分析,提出了几种可以缩短试验周期、减少人力物力消耗的试验方法。
引用
收藏
页码:23 / 26+64 +64
页数:5
相关论文
未找到相关数据
未找到相关数据