XRF系统灵敏度曲线的标定

被引：2

作者：

池济宏 ^{[1
]}

李寒辉 ^{[2
]}

机构：

[1] 河北北方学院基础农学部

[2] 北京邮电大学

来源：

河北北方学院学报(自然科学版) | 2006年 / 01期

关键词：

X光透镜; 薄膜XRF分析; 灵敏度;

D O I：

暂无

中图分类号：

TH74 [光学仪器];

学科分类号：

0803 ;

摘要：

将整体会聚透镜0301组合到XRF分析系统,并使用最小焦斑为15的OXFORD高亮微聚焦X射线源作为光源．使用不锈钢合金、化合物、单元素3种薄膜标样标定了此XRF分析系统的灵敏度曲线,并对比了使用透镜和使用光阑两种情况下系统灵敏度曲线的不同．通过计算可知,X光透镜显著提高了系统的灵敏度,两种情况荧光产额数之比对于元素Ni最大,约为2 386;Se元素的比值最小,为575．

引用

页码：24 / 27

页数：4