学术探索
学术期刊
学术作者
新闻热点
数据分析
智能评审
对拥有结终端保护的高压4H-SiC PIN二极管的研究
被引:4
作者
:
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
张发生
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
陈育林
机构
:
[1]
中南林业科技大学计算机与信息工程学院
来源
:
固体电子学研究与进展
|
2012年
/ 32卷
/ 03期
关键词
:
碳化硅;
二极管;
结终端;
模拟;
击穿电压;
工艺;
D O I
:
暂无
中图分类号
:
TN312.4 [];
学科分类号
:
摘要
:
在对4H-SiC高压PIN二极管进行了理论分析的基础上,利用仿真软件ISE10.0对具有结终端保护的高压4H-SiC PIN二极管耐压特性进行了模拟仿真计算,并取得了很多有价值的计算结果。利用平面制造工艺,结合仿真提取的参数,试制了高压4H-SiC PIN二极管。实验测试结果表明,仿真计算的结果与实际样品测试的数据一致性较好,实测此器件击穿电压值已达到1 650V。
引用
收藏
页码:225 / 229
页数:5
相关论文
共 2 条
[1]
SiC肖特基势垒二极管的研制
[J].
张玉明
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
西安电子科学大学微电子所!西安
张玉明
;
张义门
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
西安电子科学大学微电子所!西安
张义门
;
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
罗晋生
.
半导体学报,
1999,
(11)
:1040
-1043
[2]
Junction Term ination Extension fo r N ear-ldeal Breakdown Voltage in p-n Junctions..Temple VAK;Tantrapo rnW;.IEEE Trans ED.1986, 10
←
1
→
共 2 条
[1]
SiC肖特基势垒二极管的研制
[J].
张玉明
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
西安电子科学大学微电子所!西安
张玉明
;
张义门
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
西安电子科学大学微电子所!西安
张义门
;
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
罗晋生
.
半导体学报,
1999,
(11)
:1040
-1043
[2]
Junction Term ination Extension fo r N ear-ldeal Breakdown Voltage in p-n Junctions..Temple VAK;Tantrapo rnW;.IEEE Trans ED.1986, 10
←
1
→