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基于一维快速傅里叶变换的相位去包裹算法
被引：5
作者：
韦春龙
陈明仪
王之江
机构：
[1] 上海大学嘉定校区
[2] 中国科学院上海光机所
来源：
关键词：
干涉术，条纹分析，FFT，去包裹算法;
D O I：
暂无
中图分类号：
O436.1,O174.22 [];
学科分类号：
摘要：
提出了一种新的相位去包裹算法，主要针对那些条纹数少，条纹质量相对较好，仅仅是由于少数低调制度点、散斑点、噪声或灰尘引起的去包裹失败的情形。该算法基于一维ＦＦＴ（快速傅里叶变换），简单且易于实现。
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