a-Ge/Au双层膜退火后分形区的形成

被引:17
作者
侯建国
吴自勒
机构
[1] 中国科学技术大学基础物理中心
关键词
分形; 分数维数; a-Ge/Au; 双层膜; Ge;
D O I
暂无
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学科分类号
摘要
本文用透射电子显微镜观察了a-Ge/Au双层膜在不同退火温度后出现的分形区域,并计算了它们的分数维数。100℃退火时,触发分形结晶区的成核位较少,形成良好的具有无规分叉、自相似的分形区,分数维数为1.785±0.01。200℃退火时,成核位迅速增加,除了分数维数为:1.818±0.008的分形区外,还出现孤立的无枝叉结构的岛状区域。300℃退火时,只出现尺寸很不相同的两种岛状区域,对上述枝叉伏、岛状区域的出现以及a-Ge膜的晶化和Au膜缩聚之间的关系进行了讨论。
引用
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页码:1735 / 1740+1747 +1747-1748
页数:8
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