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精神分裂症高发家系的脑部CT研究
被引:2
作者
:
顾牛范
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机构:
上海市精神卫生研究所
顾牛范
严和骏
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上海市精神卫生研究所
严和骏
蔡国钧
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机构:
上海市精神卫生研究所
蔡国钧
林治光
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机构:
上海市精神卫生研究所
林治光
张明岛
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上海市精神卫生研究所
张明岛
夏镇夷
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机构:
上海市精神卫生研究所
夏镇夷
王文龙
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机构:
上海市精神卫生研究所
王文龙
张国桢
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上海市精神卫生研究所
张国桢
王赞舜
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机构:
上海市精神卫生研究所
王赞舜
机构
:
[1]
上海市精神卫生研究所
[2]
上海市华东医院
来源
:
上海精神医学
|
1987年
/ 03期
关键词
:
精神分裂症;
早发性痴呆;
高发家系;
偏执型;
脑部;
CT;
D O I
:
暂无
中图分类号
:
学科分类号
:
摘要
:
<正> 自 Bleuler 创用精神分裂症这个疾病概念以后,半个多世纪来人们从各种不同的角度来探讨它的病因。就脑部形态学方面,50年前 Jacobi 首先运用气脑造影(PEG)检查慢性精神分裂症病人,发现他们存在脑部器质性改变。1976年英国 Johnstone 用电子计算机断层扫描技术(CT)对精神分裂症脑部进行研究,结果肯定了类似 PEG的发现。以后有关这方面的报道颇多。
引用
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[1]
Cortical and Central Atrophy in Chronic Schizophpenia. Okasha A & Madkour O. . 1982
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