近景摄影测量控制点快速自动识别与定位

被引：6

作者：

邹进贵 ^{[1
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]}

孟丽媛 ^{[1
,2
]}

机构：

[1] 武汉大学测绘学院

[2] 精密工程与工业测量国家测绘地理信息局重点实验室

来源：

测绘地理信息 | 2018年 / 43卷 / 06期

关键词：

抗仿射性; Harris算法; 模板匹配; 控制点自动识别;

D O I：

10.14188/j.2095-6045.2016445

中图分类号：

P234.1 [近影摄影测量];

学科分类号：

摘要：

近景摄影测量数据处理过程中,控制点的识别和定位需要耗费时间和人力,但该环节也是实现近景摄影测量数据自动处理的关键所在。设计了一种具有抗仿射变换特征的控制点,并将模板匹配和Harris特征点提取算法结合,实现了控制点的自动识别与定位,提高了数据处理自动化程度,并通过实验证明了该方法的可行性。

引用

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页数：4

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