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多CCD拼接相机中图像传感器不均匀性校正
被引:9
作者
:
王军
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机构:
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
王军
杨会玲
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中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
杨会玲
刘亚侠
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中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
刘亚侠
何昕
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中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
何昕
郝志航
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中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
郝志航
机构
:
[1]
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
[2]
长春理工大学
[3]
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 吉林长春
[4]
吉林长春
来源
:
半导体光电
|
2005年
/ 03期
关键词
:
不均匀性;
校正;
CCD拼接;
D O I
:
10.16818/j.issn1001-5868.2005.03.027
中图分类号
:
TB852.1 [照相机];
学科分类号
:
0804 ;
摘要
:
CCD图像传感器不均匀特性是影响光电测量设备精度的一个重要因素。在分析了单片CCD图像传感器不均匀特性基础上,提出了多CCD拼接相机系统中不均匀特性的校正方法。大量实验结果表明,利用该校正方法不仅保持原图像的目标,而且简单快速,具有通用性,能够显著提高系统测量精度。该方法可行且对其他光电测量设备有参考意义。
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