多CCD拼接相机中图像传感器不均匀性校正

被引:9
作者
王军
杨会玲
刘亚侠
何昕
郝志航
机构
[1] 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
[2] 长春理工大学
[3] 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 吉林长春
[4] 吉林长春
关键词
不均匀性; 校正; CCD拼接;
D O I
10.16818/j.issn1001-5868.2005.03.027
中图分类号
TB852.1 [照相机];
学科分类号
0804 ;
摘要
CCD图像传感器不均匀特性是影响光电测量设备精度的一个重要因素。在分析了单片CCD图像传感器不均匀特性基础上,提出了多CCD拼接相机系统中不均匀特性的校正方法。大量实验结果表明,利用该校正方法不仅保持原图像的目标,而且简单快速,具有通用性,能够显著提高系统测量精度。该方法可行且对其他光电测量设备有参考意义。
引用
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