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X射线形貌学
被引：1
作者：
麦振洪
机构：
[1] 中国科学院物理研究所
来源：
关键词：
形貌术;
晶体材料;
郎氏;
异常透射;
晶体;
形貌学;
D O I：
暂无
中图分类号：
学科分类号：
摘要：
《X射线形貌学》一文,介绍一项观察晶体材料缺陷的新技术——X射线形貌术的机理、优点及在缺陷(包括点缺陷、线缺陷、面缺陷)研究、点阵参数测量、工艺控制等方面的主要应用情况;并对于各种不同形式的形貌技术(诸如柏尔格-白瑞特反射形貌术、郎氏透射形貌术、双晶形貌术、异常透射形貌术、同步辐射形貌术)分别予以简洁的讨论。文中选用若干晶体的形貌图象照片予以说明,看来颇觉直观形象。
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