原子荧光光谱法测定地质样品中的痕量锗

被引：19

作者：

肖灵

张培新

胡月华

机构：

[1] 江苏省地质调查研究院

[2] 江苏省地质调查研究院江苏南京

[3] 江苏南京

来源：

岩矿测试 | 2004年 / 03期

关键词：

锗; 氢化物发生-原子荧光光谱法; 地质样品;

D O I：

10.15898/j.cnki.11-2131/td.2004.03.017

中图分类号：

O657.3 [光化学分析法（光谱分析法）];

学科分类号：

070302 ; 081704 ;

摘要：

分析了溶矿过程中HNO3、H2SO4、HClO4、H3PO4等对Ge的影响,采用AgNO3滤气装置消除气相干扰,测定了地质样品中的痕量锗,方法检出限为0.06μg/g,用土壤国家一级标准物质GBW07401～GBW07408验证方法,结果与标准值相符,其相对标准偏差(RSD,n=12)为3.66%～6.11%。

引用

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