一种基于CCD的物位测量方法

被引：10

作者：

宋华

孟晓风

机构：

[1] 北京航空航天大学自动化学院测控系,北京航空航天大学自动化学院测控系北京,北京

来源：

仪器仪表学报 | 2002年 / 02期

关键词：

CCD; 物位测量; 图像处理;

D O I：

10.19650/j.cnki.cjsi.2002.02.006

中图分类号：

TH816 [物位测量仪表];

学科分类号：

摘要：

提出了一种基于CCD(ChargeCoupledDevice电荷耦荷器件 )的物位测量方法。讨论了其测量原理 ,指出了常用的CCD物位测量模型的不足 ,并给出了改进的模型及其标定方法 ,从而降低了对安装条件的要求 ,提高了测量精度。对实际使用中的两个重要问题 :抗干扰问题及实时性问题 ,也提出了解决方案。最后给出了应用实例及实测数据。结果表明 ,本文提出的CCD物位测量方法能满足一般物位测量的要求 ,并可应用于较复杂的测量条件下。

引用

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