基于调制度的光学三维测量的研究

被引：2

作者：

黄红云 ^{[1
]}

张亚锋 ^{[2
]}

机构：

[1] 常州工学院理学院

[2] 常州工学院光电工程学院

来源：

光学仪器 | 2008年 / 03期

关键词：

物距; 光栅图像; 调制度; 三维测量;

D O I：

暂无

中图分类号：

TG806 [技术测量方法];

学科分类号：

摘要：

为了能够测量复杂的面形物体,在基于调制度的光学三维测量研究中,提出利用改变光栅投影系统的物距,实现光栅图像对物体的纵向扫描,从而获取所测物体表面各点调制度的极大值,恢复物体的高度信息。运用此方法便于实现三维测量仪器的小型化,减少误差,可避免在相位测量中需要去包裹的问题。

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页数：4

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