基于最小二乘拟合的波片相位延迟测量

提出一种精密测量波片相位延迟的新方法。将待测波片置于起偏器和检偏器之间,通过步进电机控制波片匀速旋转,基于最小二乘法拟合出射光强随波片方位角变化的曲线,进而得到波片延迟。根据上述原理,建立了一套波片延迟测量系统,并分析了系统的稳定性、可测量的延迟范围、接收器件的非线性效应、系统误差源这4个影响测量精度的主要方面。结果表明,该系统不适于测量λ/2波片;检偏器方位角在±38°范围内,采样间隔小于10°时系统较稳定;接收器件的二次非线性效应产生较大的系统误差;波片初始角度误差和检偏器方位角误差对该系统的延迟测量影响较大;除0°,180°,360°附近区域外,系统的检测重复偏差在0.1°以内;该检测精度在整个可见光区域基本保持不变。