一种基于偏微分方程的形态学边缘检测新方法

被引：4

作者：

蔡超

刘买利

丁明跃

周成平

机构：

[1] 中国科学院武汉物理与数学研究所波谱与原子分子物理国家重点实验室

[2] 华中科技大学图像识别与人工智能研究所教育部信息处理与智能控制重点实验室

来源：

华中科技大学学报(自然科学版) | 2003年 / 10期

关键词：

边缘检测; 数学形态学; 偏微分方程;

D O I：

10.13245/j.hust.2003.10.001

中图分类号：

O175 [微分方程、积分方程];

学科分类号：

070104 ;

摘要：

提出一种基于偏微分方程 (PDE)的形态学腐蚀算子 .在边缘检测中 ,直接对原图像求取一阶差分 ,利用该形态学腐蚀算子增强边缘梯度、降低噪声的影响 ,突破了传统的先低通滤波后计算梯度的边缘检测思路 .形态学运算不会带来边缘位置的偏移 ,因此能够对图像的边缘准确定位 ,同时具有抗噪性 .将新方法的边缘检测性能和Canny算子、Log算子做了比较 ,结果表明提出的边缘定位方法更加准确 ,具有更好的抗噪性能

引用

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