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结构光测量技术中的投影仪标定算法
被引:47
作者:
李中伟
史玉升
钟凯
王从军
机构:
[1] 华中科技大学材料成形与模具技术国家重点实验室
来源:
关键词:
结构光测量;
投影仪标定;
三维测量;
相位移;
D O I:
暂无
中图分类号:
TN946.1 [屏幕录像系统];
学科分类号:
摘要:
详细介绍了投影机模型,并提出一种简单、高精度的投影仪参数标定算法,该算法将投影仪当作一个逆向的相机,使用一块带有圆形标志点的平面标定板对投影仪进行标定。标定过程中,使用两组不同方向的光栅图像建立投影仪图像和相机图像的对应关系,从而得到投影仪标定所需的图像数据,将投影仪标定转化为成熟的相机标定,然后使用相机标定算法对投影仪进行高精度标定。实验结果表明,所提议的投影仪标定算法操作过程简单,标定精度可达0.312 pixel。
引用
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页码:3061 / 3065
页数:5
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