用地层微电阻率扫描成像测井识别沉积构造特征

被引：38

作者：

吴文圣

陈钢花

王中文

雍世和

机构：

[1] 石油大学!山东

来源：

测井技术 | 2000年 / 01期

关键词：

地层微扫描测井; 沉积构造; 特征; 模式识别; 图像处理;

D O I：

10.16489/j.issn.1004-1338.2000.01.012

中图分类号：

P631.8 [地下地球物理勘探];

学科分类号：

摘要：

吴文圣 ,陈钢花 ,王中文等 .用地层微电阻率扫描成像测井识别沉积构造特征 .测井技术 ,2 0 0 0 ,2 4(1) :6 0～ 6 3地层微电阻率扫描测井是新一代成像测井技术的典型代表 ,具有极高的垂向分辨率 ,能直观显示井壁地层的微细变化。识别地层的沉积构造特征是 FMI图像的一个重要应用 ,也是分析沉积环境、进行地层划分和对比的重要依据。着重介绍了各种沉积、构造特征 (层理构造、层面构造、变形构造、化学成因构造、生物成因构造、断层、褶皱等 )在 FMI图像上的识别模式

引用

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页数：5