扫描探针显微学在材料表面纳米级结构研究中的新进展

被引：11

作者：

白春礼

林璋

机构：

[1] 中国科学院化学研究所

来源：

物理 | 1999年 / 01期

关键词：

扫描探针显微学，材料表面纳米级结构;

D O I：

暂无

中图分类号：

TB303 [材料结构及物理性质];

学科分类号：

0805 ; 080502 ;

摘要：

应用扫描探针显微技术（ＳＰＭ）［包括扫描隧道显微镜（ＳＴＭ）、原子力显微镜（ＡＦＭ）、磁力显微镜（ＭＦＭ）等］，比较系统地研究了一些无机、有机和生物材料的表面精细结构；在极高分辨率的水平上，解释了如Ｃ６０Ｌａｎｇｍｕｉｒ－Ｂｌｏｄｇｅｔ膜、有机磁性薄膜的结构与样品制备、形成条件的关系；研究并揭示了碱金属与半导体表面吸附相互作用，红细胞表面精细结构等；拓宽了扫描探针显微技术的应用范围，在实验方法和研究成果上具有明显的创新性．

引用

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