软件关联缺陷的一种检测方法

被引:24
作者
景涛
江昌海
胡德斌
白成刚
蔡开元
机构
[1] 北京航空航天大学自动控制系
[2] 北京航空航天大学自动控制系 北京
关键词
软件测试; 失效关联; 软件关联缺陷; 随机测试; 缺陷放回;
D O I
暂无
中图分类号
TP311 [程序设计、软件工程];
学科分类号
081202 ; 0835 ;
摘要
软件中的关联缺陷是一种比较普遍的现象,某些缺陷的存在与否可能导致其他缺陷检测率的变化.软件关联缺陷是造成软件失效关联的根源.给出了关联缺陷的定义,通过一个软件实例验证了缺陷的关联关系,提出了一种缺陷放回的测试方法用来剔除关联缺陷,并通过实验数据分析了缺陷放回方法的能力和效率.实验数据表明,该方法能有效检测软件关联缺陷.
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共 2 条
[1]   软件可靠性模型研究 [J].
陈学军 ;
苏振华 .
电子产品可靠性与环境试验, 1996, (05) :17-24
[2]  
软件可靠性工程基础[M]. - 清华大学出版社 , 蔡开元著, 1995