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软件关联缺陷的一种检测方法
被引:24
作者
:
景涛
论文数:
0
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0
机构:
北京航空航天大学自动控制系
景涛
江昌海
论文数:
0
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机构:
北京航空航天大学自动控制系
江昌海
胡德斌
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机构:
北京航空航天大学自动控制系
胡德斌
白成刚
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机构:
北京航空航天大学自动控制系
白成刚
蔡开元
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机构:
北京航空航天大学自动控制系
蔡开元
机构
:
[1]
北京航空航天大学自动控制系
[2]
北京航空航天大学自动控制系 北京
来源
:
软件学报
|
2005年
/ 01期
关键词
:
软件测试;
失效关联;
软件关联缺陷;
随机测试;
缺陷放回;
D O I
:
暂无
中图分类号
:
TP311 [程序设计、软件工程];
学科分类号
:
081202 ;
0835 ;
摘要
:
软件中的关联缺陷是一种比较普遍的现象,某些缺陷的存在与否可能导致其他缺陷检测率的变化.软件关联缺陷是造成软件失效关联的根源.给出了关联缺陷的定义,通过一个软件实例验证了缺陷的关联关系,提出了一种缺陷放回的测试方法用来剔除关联缺陷,并通过实验数据分析了缺陷放回方法的能力和效率.实验数据表明,该方法能有效检测软件关联缺陷.
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页数:12
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共 2 条
[1]
软件可靠性模型研究
[J].
陈学军
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
电子部五所
陈学军
;
苏振华
论文数:
0
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0
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0
机构:
电子部五所
苏振华
.
电子产品可靠性与环境试验,
1996,
(05)
:17
-24
[2]
软件可靠性工程基础[M]. - 清华大学出版社 , 蔡开元著, 1995
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软件可靠性模型研究
[J].
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陈学军
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苏振华
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苏振华
.
电子产品可靠性与环境试验,
1996,
(05)
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软件可靠性工程基础[M]. - 清华大学出版社 , 蔡开元著, 1995
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