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一个基于神经网络的测试生成系统
被引：2
作者：
陈朝阳
陈光
虞厥邦
不详
机构：
[1] 电子科技大学自动化系
来源：
关键词：
测试生成；组合电路；神经网络；概率松驰;
D O I：
暂无
中图分类号：
TN407 [测试和检验];
学科分类号：
080903 ;
1401 ;
摘要：
介绍了一个基于组合电路的Ｈｏｐｆｉｅｌｄ神经网络模型的测试生成系统，系统中运用概率松驰搜索算法求解给定故障的测试矢量。实验结果表明了该系统的可行性
引用
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