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低压大容量试验和测试技术水平综述(Ⅰ)
被引:11
作者
:
丁正平
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
机械部第七设计研究院
丁正平
机构
:
[1]
机械部第七设计研究院
来源
:
低压电器
|
1994年
/ 01期
关键词
:
低压电器;
试验;
测试技术;
综述;
D O I
:
10.16628/j.cnki.2095-8188.1994.01.001
中图分类号
:
TM52 [低压电器(总论)];
学科分类号
:
080801 ;
摘要
:
就国内外低压电器试验室(站)及其测试技术的水平和发展趋势进行了系统的分析和综述,并提出了当前国内存在的差距.对编制行业发展规划和试验站(室)的建设、设计提供了有价值的资料.
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