基于两步法线阵CCD标定技术研究

被引：15

作者：

张洪涛 ^{[1
]}

段发阶 ^{[1
]}

丁克勤 ^{[2
]}

叶声华 ^{[1
]}

机构：

[1] 天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室

[2] 锅炉压力容器检测研究中心

来源：

计量学报 | 2007年 / 04期

关键词：

计量学; 线阵CCD; 两步法; 标定;

D O I：

暂无

中图分类号：

TG806 [技术测量方法];

学科分类号：

摘要：

线阵CCD具有高采集率、宽视场的优点,一般应用在高速扫描系统中,CCD与扫描物间的相对位姿不仅影响扫描范围,而且影响其扫描精度,所以需要高精度标定CCD位姿参数。文中首先给出了线阵CCD全位姿的数学模型,通过不断对模型的变换处理,将模型参数分离为两组,分别表征CCD的视范围及物像映射关系,两者既独立又相互联系,可以独立进行标定,简化了标定过程。

引用

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