电路故障诊断中探针测试点的筛选算法研究

被引：1

作者：

张世德

苏玮

薛立军

刘莹

机构：

[1] 北京联合大学机电学院

来源：

关键词：

探针测试点; 筛选算法; 单固定型故障; 多固定型故障;

D O I：

暂无

中图分类号：

TJ760 [一般性问题];

学科分类号：

082501 ; 082601 ; 082602 ;

摘要：

介绍了基于故障字典的电路故障诊断系统设计及故障定位过程,提出了针对固定型故障的简化探针测试点集合的流域覆盖法的思想,在分析单固定型故障和多固定型故障的基础上给出具体的筛选算法,讨论了单故障诊断与多故障诊断的应用。

引用

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