提高ISAR分辨率的两种外推方法性能之比较

被引：10

作者：

李斌 ^{[1
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慈林林 ^{[2
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万建伟 ^{[1
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姚康泽 ^{[2
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王岩 ^{[2
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机构：

[1] 国防科技大学电子科学与工程学院

[2] 北京信息高技术研究所

来源：

雷达科学与技术 | 2006年 / 06期

关键词：

谱外推; ISAR像分辨率; AR模型; 高分辨DFT; 越距离单元走动;

D O I：

暂无

中图分类号：

TN958 [雷达：按体制分];

学科分类号：

080903 [微电子学与固体电子学];

摘要：

从ISAR成像原理出发,分析了散射点越距离单元走动(MTRC)对ISAR分辨率的影响,通过高分辨DFT数据矩阵求逆和AR模型进行方位谱数据外推;对不同的信噪比条件下,两种方法外推前后ISAR像的距离和方位分辨率及相关性作了比较分析。分析表明,方位谱外推的方法可在提高方位向分辨率的同时,有效地克服MTRC对距离向分辨率的降质,从而提高ISAR的成像质量。

引用

页码：358 / 362+381 +381

页数：6