CCD画像处理量测技术在模型试验中的应用

被引:3
作者
任伟中,朱维申
机构
[1] 中国科学院武汉岩土力学研究所
关键词
CCD画像处理,位移量测,模型试验;
D O I
10.16030/j.cnki.issn.1000-3665.1997.06.018
中图分类号
TN386.5 [电荷耦合器件];
学科分类号
0805 ; 080501 ; 080502 ; 080903 ;
摘要
本文讨论了模型试验中目前主要采用的各种位移量测技术的优缺点,介绍了一种新型先进的位移量测技术一一CCD画像处理法的基本原理和方法,并将其应用到小块体堆砌成的节理岩体断面模型试验中测量位移。该方法具有设备简单、操作方便、对环境条件要求较低、自动化程度高、精度较高等优点,有望发挥更大作用。
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共 3 条
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